星云功率半導體老化測試系統(tǒng)
星云功率半導體老化測試系統(tǒng)是一款針對半導體產(chǎn)品方向的做高溫反偏，柵極反偏老化測試設(shè)備，用以評估功率半導體的可靠性。
應(yīng)用場景
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新能源汽車 -
儲能 -
工業(yè)與通訊 -
航天航空 -
醫(yī)療設(shè)備
產(chǎn)品亮點
測試精度高
采樣速率高
波形實時顯示
數(shù)據(jù)直觀
安全控制策略
保護使用者安全
實時故障偵測
ms級數(shù)據(jù)自動儲存
基礎(chǔ)參數(shù)
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產(chǎn)品型號NEPS-HTB2000015-V001
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高壓源范圍：0~2000V
精度：0.1%+100mV -
HTGB:IGES(IGDS)范圍：0.1nA~15mA
精度 0.5%±2LSB
分辨率：10pA -
HTRB/H3TRB:ICES(IDSS)范圍：1μA~10mA
精度：0.5%±2LSB
分辨率：1μA -
溫箱溫度范圍(環(huán)境溫度+20)℃～+300℃
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溫箱波動度≤100℃時：0.4℃
≤200℃時：0.4℃
≤300℃時：0.8℃ -
溫箱溫度偏差≤100℃時：±1.5℃
≤200℃時：±2.0℃
≤300℃時：±3.0℃ -
電源分區(qū)最大支持8個電源分區(qū)
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交流輸入電壓:220±10%
頻率:50/60Hz±3Hz
